La Nivelación de Alta Precisión (NAP) permite determinar en coordenadas absolutas posibles movimientos en el exterior de fachadas de edificios, estructuras de apeo, etc. Habitualmente se utiliza este método al obtener unos resultados más precisos de la coordenada z, que los obtenidos mediante el taquímetro.

Esta metodología consiste en una nivelación geométrica por el procedimiento del punto medio, según el cual se estaciona el aparato en el punto medio de los puntos que se desean nivelar. Las lecturas se tomarán mediante dos visuales dirigidas a una mira situada sucesivamente sobre cada punto. En los puntos de estudio se dispondrán regletas, las cuales permitirán realizar un control de los movimientos altimétricos con lecturas que aprecian la décima de milímetro y estiman la centésima.

Para la nivelación de alta precisión se dispone de un nivel óptico LEICA NA2, dotado de micrómetro de placas plano-paralelas GPM3, lográndose una desviación estándar en 1 km de nivelación doble de 0,3 mm. Además, las regletas consisten en un soporte tipo diábolo, introducido en la fachada mediante una perforación (taco) o mediante su fijación por medio de una resina epoxídica. Este soporte tiene una base de 3 cm de radio y una altura de aproximadamente 2,5 cm. Sobre el soporte se colocará una regleta de acero de invar con marcas espaciadas 1 mm para su medida.

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